Wzorzec rezystancji z półprzewodników półmagnetycznych (Polska Metrologia II)
- Kierownik projektu: prof. dr hab. Tomasz Dietl
- Zespół realizujący projekt: ON 6.1 - Zespół Projektowania Materiałów
- Rodzaj projektu: MNiSW
- Okres realizacji: 2024-2026
- Identyfikator projektu: PM-II/SP/0012/2024/02
- Przyznane środki dla IF PAN: 944 900 zł
- Waluta: zł
Projekt finansowany ze środków budżetu państwa, przyznanych przez Ministra Nauki w ramach programu Polska Metrologia II
Nazwa zadania: Wzorzec rezystancji z półprzewodników półmagnetycznych
Dofinansowanie: 944 900 zł
Całkowita wartość: 944 900 zł
Krótki opis zadania:
Celem projektu jest otrzymanie i scharakteryzowanie wzorców rezystancji, które wykorzystają unikalne własności półprzewodników zawierających jony magnetyczne, w tym dotyczące kwantowego zjawiska Halla (QHE) i kwantowego anomalnego zjawiska Halla (QAHE).
Projekt będzie wykonywany we współpracy Międzynarodowego Centrum Sprzężenia Magnetyzmu i Nadprzewodnictwa z Materią Topologiczną – MagTop w IFPAN i Laboratorium Wzorców Wielkości Elektrycznych Głównego Urzędu Miar (GUM).
Realizacja projektu będzie możliwa dzięki połączeniu potencjału intelektualnego, technologicznego i aparaturowego laboratoriów IFPAN, w szczególności Laboratorium Epitaksji z Wiązek Molekularnych (MBE) nanostruktur półprzewodnikowych – gdzie wytwarzane będą struktury kwantowe, z doświadczeniem i wyposażeniem metrologicznym zgromadzonym w GUM.
Data podpisania umowy: 22 lutego 2024 roku
Kierownik projektu: Prof. dr hab. Tomasz Dietl
Link: https://magtop.ifpan.edu.pl/polska-metrologia-ii/
