Evaluation of Metal–Semiconductor Contact Quality: Correlation of 1/f Noise and Nonlinearity
- Afiliacje: ON4
- Data opublikowania (wydrukowania): 10-11-22
- Impact factor: 3
- Impact factor txt: 3,221
- Strony: 6999-7004
- Wolumin: 69
- Autor: Ciura Łukasz, Śliż Paweł, Jarosz Dawid, Krzemiński Piotr, Marchewka M.
- Tytuł publikacji: Evaluation of Metal–Semiconductor Contact Quality: Correlation of 1/f Noise and Nonlinearity
- Rok: 2022
- Czasopismo / konferencja / monografia: IEEE Transactions on Electron Devices
IEEE Transactions on Electron Devices, 69 (2022)
