XPS analysis of surface compositional changes in InSb1-xBix(111) due to low-energy Ar+ ion bombardment
- Afiliacje: SL1, SL1.2, SL3, SL3.1
- Data opublikowania (wydrukowania): 01-01-00
- Impact factor: 1
- Impact factor txt: 1,195
- Strony: 193-199
- Wolumin: 153
- Autor: Iwanowski Ryszard, Heinonen M. H., Raczyńska J., Fronc Krzysztof
- Tytuł publikacji: XPS analysis of surface compositional changes in InSb1-xBix(111) due to low-energy Ar+ ion bombardment
- DOI: https://doi.org/10.1016/S0169-4332(99)00485-7
- Rok: 2000
- Czasopismo / konferencja / monografia: Applied Surface Science
Applied Surface Science, 153 (2000)
